Universidad Autónoma de Madrid

El espectrómetro de TXRF 8030c está habilitado para poder realizar medidas de GI-XRF  por lo que dispone de la mecánica de variación angular y software de adquisición necesarios para poder realizar estudios de contaminación superficial en láminas de cualquier material dentro de un rango de -500 nanómetros a +500 nanómetros a lo largo de z sobre la superficie estudiada. en particular el mayor interés se encuentra en el estudio de wafers de Si, láminas de vidrio utilizadas como soportes de metales o láminas de materiales poliméricos utilizados actualmente en tecnología optoelectrónica.

Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por reflexión Total (TXRF) de geometría fija. 

El equipo MASTERSIZER-2000 es un instrumento para la medida de la Distribución del Tamaño de Partícula (PSD) por medio de la Difracción Láser (LD). Está equipado con un sistema de inyección Hydro 2000 / MU que permite la dispersión de las muestras en fluidos mediante turbina y sonda de ultrasonido.

Analizador LECO CHNS-932.(Model NO: 601-800-500). 

Total Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Spectrometer with fixed geometry

Espectrómetro de 300MHz de 2 canales dedicado a la obtención de espectros de rutina mono y bidimensionales, de ¹H, ¹³C y heteronúcleos: ¹¹B, ²⁷Al, ²⁹Si, ³¹P, ¹¹³Cd, ¹¹⁹Sn, ¹⁹⁵Pt.

El equipo DRX-500 de dos canales presenta mayor sensibilidad y dispersión espectral, por lo que está indicado en los casos de baja concentración de muestra (< 2 mM) o cuando exista un gran solapamiento de señales. También presenta mejor capacidad de supresión de señales intensas, siendo útil en el caso de muestras disueltas en agua “ligera” (H2O 90-95%). Los experimentos de 19F solamente pueden realizarse en el equipos DRX500 , por su electrónica y con la sonda BBOFplus.

 Calorímetro Discovery DSC de TA Instruments

Calorímetro Diferencial de Barrido DSC Q100