Áreas de Experiencia Científica
- Aplicación de las Técnicas de difracción de rayos X, neutrones y radiación
Sincrotrón en el estudio de los materiales. Instituciones UAM-SIdI y ILL-Grenoble.
- Aplicación de las Técnicas TXRF, IC e ICP-MS en la resolución de
problemas
analíticos. Instituciones UAM-SIdI, GKSS-Hamburgo.
- Aplicación de la TXRF en Arqueometría. Instituciones UAM-SIdI, UCM-Dpto.
Historia, CSIC, UAM-Dpto. Prehistoria.
- Aplicación de la TXRF en Cito-toxicología y Biología Molecular.
Instituciones UAM-SIdI, UAM-CBM, Universidad de Chile.
- Aplicación de la técnica de TXRF en Catálisis y Medio-Ambiente.
Instituciones UAM-SIdI, ICP-CSIC.
- Aplicación de la técnica de ICP-MS en el análisis de LN, LT y LNT.
Instituciones UAM-SIdI, UAM-Dpto. Física de Materiales.
- Aplicación de la TXRF al análisis de líquidos ferromagnéticos nanopartículados.
UAM-SIdI, ICMM-CSIC.
- Estudio Estructural de Óxidos funcionales Ferroeléctricos tipo LN, LT y LNT.
SIdI-UAM, Física de Materiales de la UAM, ILL-Grenoble, CNRS-Orleans.
- Estudio mediante TXRF y XRD de disoluciones sólidas de CuInSe (CIS) y CuGaSe (CGS).
SIdI-UAM, Física Aplicada de la UAM.
Líneas de Investigación Actuales
- Puesta a punto de metodologías específicas para TXRF e ICP-MS para el análisis químico de Aguas, Sedimentos y Plantas en el ambiente extremo de Río Tinto en colaboración con el Centro de Biología Molecular de la UAM.
- Desarrollo de metodologías de Análisis Cuantitativo Directo de Sólidos mediante TXRF previa optimización de parámetros físicos de su estado coloidal.
Servicio Interdepartamental de Investigación.
- Diseño, Desarrollo e Implementación de un Sistema Digital de DRX-Laue para la orientación rápida de Monocristales
y Aplicaciones de DRX Especiales. Servicio Interdepartamental de
Investigación.
- Aplicación de la TXRF al estudio de procesos de captación de metales por Nanotubos de Carbono del tipo SW y MW en colaboración con el Instituto de
Ciencia de los Materiales de Madrid del CSIC.
- Desarrollo de la Técnica de TXRF
para el estudio de Perfiles Composicionales en Profundidad en
Superficies a escalas Nanométricas. Sistema CuIn1-xSe2Gax.
Servicio Interdepartamental de Investigación, Física Aplicada-UAM.
@
RFR.
lunes, 19 de julio de 2010