Áreas de Experiencia Científica

• Aplicación de las Técnicas de difracción de rayos X, neutrones y radiación Sincrotrón en el estudio de los materiales. Instituciones UAM-SIdI y  ILL-Grenoble.
• Aplicación de las Técnicas TXRF, IC e ICP-MS en la resolución de problemas analíticos. Instituciones UAM-SIdI, GKSS-Hamburgo.
• Aplicación de la TXRF en Arqueometría. Instituciones UAM-SIdI, UCM-Dpto. Historia, CSIC, UAM-Dpto. Prehistoria.
• Aplicación de la TXRF en Cito-toxicología y Biología Molecular. Instituciones UAM-SIdI, UAM-CBM, Universidad de Chile.
• Aplicación de la técnica de TXRF en Catálisis y Medio-Ambiente. Instituciones UAM-SIdI, ICP-CSIC.
• Aplicación de la técnica de ICP-MS en el análisis de LN, LT y LNT. Instituciones UAM-SIdI, UAM-Dpto. Física de Materiales.
• Aplicación de la TXRF al análisis de líquidos ferromagnéticos nanopartículados. UAM-SIdI, ICMM-CSIC.
• Estudio Estructural de Óxidos funcionales Ferroeléctricos tipo LN, LT y LNT. SIdI-UAM, Física de Materiales de la UAM, ILL-Grenoble, CNRS-Orleans.
• Estudio mediante TXRF y XRD de disoluciones sólidas de CuInSe (CIS) y CuGaSe (CGS). SIdI-UAM, Física Aplicada de la UAM.

Líneas de Investigación Actuales

• Puesta a punto de metodologías específicas para TXRF e ICP-MS para el análisis químico de Aguas, Sedimentos y Plantas en el ambiente extremo de Río Tinto en colaboración con el Centro de Biología Molecular de la UAM.
• Desarrollo de metodologías de Análisis Cuantitativo Directo de Sólidos mediante TXRF previa optimización de parámetros físicos de su estado coloidal. Servicio Interdepartamental de Investigación.
• Diseño, Desarrollo e Implementación de un Sistema Digital de DRX-Laue para la orientación rápida de Monocristales y Aplicaciones de DRX Especiales. Servicio Interdepartamental de Investigación.
• Aplicación de la TXRF al estudio de procesos de captación de metales por Nanotubos de Carbono del tipo SW y MW en colaboración con el Instituto de Ciencia de los Materiales de Madrid del CSIC.
• Desarrollo de la Técnica de TXRF para el estudio de Perfiles Composicionales en Profundidad en Superficies a escalas Nanométricas. Sistema CuIn1-xSe2Gax. Servicio Interdepartamental de Investigación, Física Aplicada-UAM.
   

@ RFR.  lunes, 19 de julio de 2010