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Equipamiento

1 Espectrómetro de TXRF 8030c FEI

Espectrómetro de TXRF 8030c, FEI Espectrómetro de TXRF 8030c, FEI

El espectrómetro de TXRF 8030c está habilitado para poder realizar medidas de GI-XRF  por lo que dispone de la mecánica de variación angular y software de adquisición necesarios para poder realizar estudios de contaminación superficial en láminas de cualquier material dentro de un rango de -500 nanómetros a +500 nanómetros a lo largo de z sobre la superficie estudiada. en particular el mayor interés se encuentra en el estudio de wafers de Si, láminas de vidrio utilizadas como soportes de metales o láminas de materiales poliméricos utilizados actualmente en tecnología optoelectrónica.

El Espectrómetro de TXRF 8030C consta de:

  • Ordenador de control
  • Detector SDD y electrónica de adquisición
  • Intercambiador automático de hasta 54 muestras
  • 1 Transformador de HV Seifert Isodebye-Flex ID 3003 (60 kV, 80 mA, 3 kW)
  • 1 Fuente de Rayos X de ánodo mixto (Mo/W)