Espectroscopía Raman
La espectroscopía Raman es una técnica espectroscópica basada en el examen de la luz dispersada por un material al incidir sobre él un haz de luz monocromático. Esta técnica proporciona información sobre las vibraciones moleculares del material a partir del análisis e interpretación de la radiación electromagnética dispersada inelásticamente a frecuencias menores que la radiación incidente (Raman Stokes). Como fuente de excitación se emplea un láser, y la energía dispersada en el rango del visible o el infrarrojo cercano es detectada mediante un espectrómetro. Los espectros vibracionales obtenidos son característicos de cada especie molecular y por tanto constituyen su huella dactilar, permitiendo la detección de una amplia variedad de compuestos orgánicos y fases minerales. Además, es una técnica de análisis no destructiva, que permite realizar análisis in situ o en la que la muestra utilizada no suele necesitar preparación.
Equipamiento:
Sistema integrado y portátil, modelo i-Raman Pro 785S de BWTEK. Láser de longitud de onda de 785nm. Sonda de fibra óptica BAC 102-785. Espectrómetro CCD optimizado para espectroscopía Raman (BWS475-785S), de rango espectral entre 65 a 3.350 cm-1 y resolución inferior a 4,5 cm-1.
Videomicroscopio BAC151B dotado de iluminación led y distintos objetivos (x20, x50 y x80 aumentos) que convierte al dispositivo en un Micro-Raman.
Espectroscopia de plasma inducida por láser (LIBS)
Espectroscopia de plasma inducida por láser, habitualmente denominada por sus siglas en inglés: LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy), es una técnica de análisis que ofrece información sobre la composición elemental de la muestra estudiada. Concretamente, es un tipo de espectroscopia de emisión atómica que emplea como fuente de excitación un láser. Cuando este impacta en la muestra, una cantidad minúscula del material es ablacionada (arrancada), que, excitada a un estado transitorio de plasma, emite radiación característica de los elementos presentes.
Equipamiento:
Fluorescencia de rayos X (FRX)
La fluorescencia de rayos X es una técnica analítica elemental que se basa en la emisión de rayos X secundarios (fluorescentes) característicos de un material que ha sido excitado al ser incidido con rayos X de alta energía. Al incidir los rayos X en la muestra, los fotones incidentes provocan la “expulsión” de los electrones internos de los elementos presentes, creando huecos o vacantes que hacen que los átomos pasen a un estado excitado. Para volver al estado fundamental, las vacantes de las capas internas son ocupadas por los electrones de las capas más externas, liberándose durante este proceso un exceso de energía (igual a la diferencia de energía de los niveles electrónicos entre los que los electrones “saltan”) mediante la emisión de rayos X o electrones Auger.
Equipamiento:
Potenciostato
Equipo para realizar reducciones electrolíticas controladas con cátodo de platino, un electrodo de referencia y conductímetro. Además de las reducciones electrolíticas, se utiliza para pruebas de envejecimiento acelerado. Este equipo se encuentra de momento fuera de uso y en previsión de configuración.
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