Access the web mapAccess the main menuAccess the footerAccess the main content
English

Present

Nuevo Microscopio Electrónico de Barrido de Alta resolución de RAITH

02/09/2020
Nuevo Microscopio SEM de alta resolución de Raith

Nuevo Microscopio SEM de alta resolución de Raith

Hace unos meses se incorporó al Laboratorio de Microscopía Electrónica del SIdI un nuevo equipo del fabricante RAITH. El modelo es el eLINE Plus.

Se trata de un equipo de alta resolución (FEG) con el que podemos realizar litografía por haz de electrones y/o caracterizar materiales tomando imágenes de las superficies y analizando los elementos que los componen. Además, mediante un sistema de inyección de un gas precursor de Pt, es posible implantar Pt sobre la muestra para realizar micro/nanoestructuras.

Adicionalmente el equipo incorpora un detector de electrones secundarios (SE), detectores inlens SE/BSE, así como un analizador EDX, Quantax EDS, modelo XFlash 6I30 de Bruker para la realización de análisis y mapas de composición de las muestras.

Los interesados deberán ponerse en contacto con el laboratorio de microscopía electrónica del SIdI (meb.sidi@uam.es).

Este equipamiento es parte del proyecto de I+D+i ayuda EQC2021-007091-P, financiado por MCIN/AEI/10.13039/501100011033 y por la Unión Europea NextGenerationEU/PRTR.