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Unidad de Microscopía

Microscopio Electrónico de Barrido Hitachi S-3000N

Resolución 3nm a 25Kv y tensión de 0,3 a 30Kv.

  • Las medidas se pueden realizar en alto o bajo vacío. Dispone de detectores de SE y BSE así como de un analizador de EDX Quantax EDS, modelo XFlash 6I30, de Bruker y de un sistema de Catodoluminiscencia CHROMA-CL2 de Gatan. Permite una inclinación de 90 º en las muestras. 
  • Metalización por sputter Quórum, Q150T-S, para recubrimientos con Oro / Cromo.

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